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2640-486 Mafra, 葡萄牙
Tecnoveritas - Serviços De Engenharia e Sistemas Tecnológicos, Lda
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关于我们
查看更多 FRT是世界领先的用于研发和大规模生产的三维计量学供应商之一。FRT MicroProf®在半导体前端、高级封装、MEMS、VCSEL、汽车、机械工程、光学、LED和医疗市场都有一定的地位。
第三代超稳定平台和专有软件是超过25年的经验的结晶。FRT多传感器概念和混合测量技术支持世界各地的生产线。其应用是非接触和全自动的。测量参数有地形、台阶高度、粗糙度、TTV、曲率、翘曲度、张力、层和叠层厚度、叠层和CD - 以及更多。
不同的测量方法可以与点、线和面积传感器以及层厚传感器和原子力显微镜结合在一个测量设备和配方中。
屡获殊荣的测量系统提供(也是全自动的)关于地形、结构、台阶高度、粗糙度、磨损、层厚和许多其他参数的信息,非接触和非破坏性。
根据不同的应用,不同的测量方法与点、线、面积和层厚传感器以及原子力显微镜可以结合在一个测量设备中 - 测量范围可以从一米延伸到亚纳米范围。
第三代超稳定平台和专有软件是超过25年的经验的结晶。FRT多传感器概念和混合测量技术支持世界各地的生产线。其应用是非接触和全自动的。测量参数有地形、台阶高度、粗糙度、TTV、曲率、翘曲度、张力、层和叠层厚度、叠层和CD - 以及更多。
不同的测量方法可以与点、线和面积传感器以及层厚传感器和原子力显微镜结合在一个测量设备和配方中。
屡获殊荣的测量系统提供(也是全自动的)关于地形、结构、台阶高度、粗糙度、磨损、层厚和许多其他参数的信息,非接触和非破坏性。
根据不同的应用,不同的测量方法与点、线、面积和层厚传感器以及原子力显微镜可以结合在一个测量设备中 - 测量范围可以从一米延伸到亚纳米范围。
描述
查看更多 表面粗糙度测量数据可提供完整且易于理解的整个表面图像。与此相反,测量轮廓只包含整个图像的一小部分,也不那么直观易懂。ISO 25178 和 ISO 4287 系列标准中分别描述了基于表面或轮廓评估的测量链,它们之间存在细节上的差异。
使用光学轮廓仪(如 TopMap 白光干涉仪)可以大面积快速测量表面粗糙度。只需选择放大倍率,电动转塔和自动寻焦器就能支持快速、大范围的三维粗糙度测量和评估。管理和加载自定义和预定义的测量配方,简化粗糙度评估的快速启动,只需单击鼠标即可创建报告并共享粗糙度评估结果,例如 ISO 25178 等标准。
关于我们
Zentrale Anwendungsbereiche für Serienprodukte, Einzelkomponenten und für komplexe Systemlösungen der EMG-Gruppe sind kontinuierliche Produktionsprozesse in den Branchen Metall, Papier und Kunststoff sowie in der Folien- und Reifenindustrie.
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